理論 具體無從得知
然后我們來看一看理論測(cè)試結(jié)果,測(cè)試自然是采用盡可能好的讀卡器配合存儲(chǔ)卡來實(shí)現(xiàn)理論測(cè)試,測(cè)試結(jié)果如下:
我們可以看到在這個(gè)測(cè)試當(dāng)中XQD存儲(chǔ)卡的性能有點(diǎn)過于讓我們失望,當(dāng)然在測(cè)試過程中我們也發(fā)現(xiàn)使用讀卡器存在寫入IOPs過低,部分測(cè)試無法進(jìn)行的,大量測(cè)試結(jié)果非常奇怪等事件,所以說這個(gè)讀卡器顯然是有點(diǎn)小的問題,所以實(shí)際性能還是需要依靠相機(jī)測(cè)試。